X熒光光譜儀是一種應(yīng)用廣泛的儀器，那X熒光光譜儀基本參數(shù)法是什么？
X射線熒光光譜分析是一種引用非常廣泛的化學(xué)成分分析手段，始于20世紀(jì)50年代初，至今在分析理論、方法、儀器和應(yīng)用等方法都取得了長(zhǎng)足的發(fā)展，尤其是基本參數(shù)法進(jìn)入實(shí)用階段后，X射線熒光光譜定量分析依賴相似標(biāo)樣的情況得到改善，使X射線熒光光譜分析不僅成為化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室的常用方法，而且在現(xiàn)場(chǎng)分析、在線分析以及非破壞分析上發(fā)揮著重要的作用，是其他方法無(wú)法替代的。
基本參數(shù)法的理論基礎(chǔ)是譜線強(qiáng)度和元素濃度之間的理論關(guān)系，也就是說(shuō)，根據(jù)測(cè)量的譜線強(qiáng)度和測(cè)量條件，就可以計(jì)算出待測(cè)元素的濃度。所以，基本參數(shù)法從理論上說(shuō)，是不需要相似標(biāo)樣的，只需要用樣品對(duì)儀器因子進(jìn)行校正，這樣的樣品可以使純?cè)貥悠罚部梢允苟嘣獦悠贰Ｔ缙诘幕緟?shù)法因?yàn)橛?jì)算機(jī)的速度不夠快，理論強(qiáng)度計(jì)算模型不完善，X射線管原級(jí)譜強(qiáng)度分布的測(cè)定或計(jì)算不夠準(zhǔn)確，以及用于理論強(qiáng)度計(jì)算的一些基本參數(shù)誤差較大等原因，造成分析結(jié)果不夠準(zhǔn)確，因此產(chǎn)生了理論影響系數(shù)法。
理論影響系數(shù)法是采用一定的數(shù)學(xué)校正方程和一些列理論計(jì)算的系數(shù)來(lái)校正元素間的吸收-增強(qiáng)的方法。理論影響系數(shù)法中理論強(qiáng)度的計(jì)算僅在計(jì)算理論影響系數(shù)時(shí)計(jì)算一次，因而可以大大節(jié)省計(jì)算時(shí)間，但是理論影響系數(shù)法仍需少量相似標(biāo)樣校正基體。由于計(jì)算理論影響系數(shù)時(shí)需要用基本參數(shù)計(jì)算理論強(qiáng)度，所以理論影響系數(shù)法也歸入基本參數(shù)法的范疇。
一種合金鋼的熒光X射線譜
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，個(gè)人計(jì)算機(jī)無(wú)論運(yùn)算速度還是介個(gè)都完全能滿足基本參數(shù)法在線運(yùn)行的需要，記上熒光強(qiáng)度的理論公式的不斷完善、基本參數(shù)和X射線管原級(jí)譜強(qiáng)度分布計(jì)算準(zhǔn)確度不斷提高，使基本參數(shù)法的準(zhǔn)確度不斷改進(jìn)。所以近年來(lái)基本參數(shù)法的應(yīng)用有了長(zhǎng)足的進(jìn)步，并被多數(shù)商業(yè)軟件所采用，特別是在無(wú)標(biāo)樣定量分析、半定量分析以及多層膜成分和厚度的同時(shí)測(cè)定中的應(yīng)用非常成功。
X熒光光譜儀基本參數(shù)法，為進(jìn)一步完善，研究人員還在不斷的探索中。