臺(tái)式或者手持式的X熒光光譜儀均采用X射線(xiàn)熒光檢測(cè)辦法，對(duì)物體樣品進(jìn)行檢測(cè)分析，以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的定性及定量分析。那什么是X熒光光譜儀的定性定量分析呢？
定性分析
不同元素的熒光X射線(xiàn)具有各自的特定波長(zhǎng)，因此根據(jù)熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)可以確定元素的組成。如果是波長(zhǎng)色散型光譜儀，對(duì)于一定晶面間距的晶體，由檢測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)的2θ角可以求出X射線(xiàn)的波長(zhǎng)λ，從而確定元素成分。事實(shí)上，在定性分析時(shí)，可以靠計(jì)算機(jī)自動(dòng)識(shí)別譜線(xiàn)，給出定性結(jié)果。但是如果元素含量過(guò)低或存在元素間的譜線(xiàn)干擾時(shí)，仍需人工鑒別。
臺(tái)式X熒光光譜儀的多種檢測(cè)?
定量分析
X射線(xiàn)熒光光譜法進(jìn)行定量分析的依據(jù)是元素的熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度與試樣中該元素的含量成正比。采用標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法，增量法，內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應(yīng)或共存元素的影響，會(huì)給測(cè)定結(jié)果造成很大的偏差。所謂基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對(duì)X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度所造成的影響。化學(xué)組成的變化，會(huì)影響樣品對(duì)一次X射線(xiàn)和X射線(xiàn)熒光的吸收，也會(huì)改變熒光增強(qiáng)效應(yīng)。例如，在測(cè)定不銹鋼中Fe和Ni等元素時(shí)，由于一次X射線(xiàn)的激發(fā)會(huì)產(chǎn)生NiKα熒光X射線(xiàn)，NiKα在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發(fā)產(chǎn)生FeKα，測(cè)定Ni時(shí)，因?yàn)镕e的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低，測(cè)定Fe時(shí)，由于熒光增強(qiáng)效應(yīng)使結(jié)果偏高。但是，配置相同的基體又幾乎是不可能的。為克服這個(gè)問(wèn)題，目前X射熒光光譜定量方法一般采用基本參數(shù)法。該辦法是在考慮各元素之間的吸收和增強(qiáng)效應(yīng)的基礎(chǔ)上，用標(biāo)樣或純物質(zhì)計(jì)算出元素?zé)晒釾射線(xiàn)理論強(qiáng)度，并測(cè)其熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度。將實(shí)測(cè)強(qiáng)度與理論強(qiáng)度比較，求出該元素的靈敏度系數(shù)，測(cè)未知樣品時(shí)，先測(cè)定試樣的熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度，根據(jù)實(shí)測(cè)強(qiáng)度和靈敏度系數(shù)設(shè)定初始濃度值，再由該濃度值計(jì)算理論強(qiáng)度。將測(cè)定強(qiáng)度與理論強(qiáng)度比較，使兩者達(dá)到某一預(yù)定精度，否則要再次修正，該法要測(cè)定和計(jì)算試樣中所有的元素，并且要考慮這些元素間相互干擾效應(yīng)，計(jì)算十分復(fù)雜。因此，必須依靠計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算。該方法可以認(rèn)為是無(wú)標(biāo)樣定量分析。當(dāng)欲測(cè)樣品含量大于1%時(shí)，其相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差可小于1%。
采用X熒光光譜儀對(duì)物體樣品進(jìn)行分析，是被廣泛應(yīng)用的檢測(cè)方式。