創(chuàng)想儀器有系列X熒光光譜儀可供客戶選擇，在使用X熒光光譜儀的時候，如果要得到更精準(zhǔn)的檢測數(shù)據(jù)，是需要對樣品進行測前制備，下面就為大家來介紹一下固體樣品的制備方法。
我們在冶金業(yè)中，一般切割或直接澆鑄的試樣表面比較粗糙，通常需要進一步研磨。研磨可以在磨片機上研磨，也可以在磨床上加工光潔度較高的表面。通常使用的磨料有各種顆粒度的氧化鋁（即剛玉）或碳化硅即（金鋼砂）。一般不拋光或化學(xué)腐蝕等特殊處理，在測量短波譜線如鉬、鎳、鉻等元素時，大約80~120粒度砂紙的光潔度即可滿足要求，但測量長波譜線要求試樣表面光潔度要高，特別重要的是分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的表面一定要有一致的光潔度。
樣品在研磨過程中，有可能把樣品中夾雜物磨掉，造成某些元素分析結(jié)果偏低，或者也可能發(fā)生表面污染。如，分析低鋁時，如果使用氧化鋁作磨料，表面就可能被污染，這時采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅時，應(yīng)采須知氧化鋁作磨料。對有色金屬如鋁合金、銅合金等，它們遠比鋼鐵試樣要軟，不能用砂紙研磨，而應(yīng)該用車床，以保證樣品表面光潔度。
創(chuàng)想儀器X熒光光譜儀在冶金業(yè)的使用
檢驗這種表面沾污的方法測量沾污元素譜線的強度比。對于原子序數(shù)60以下的元素，可測量其La1Ka強度比，對于原子序數(shù)60以上的重元素，應(yīng)測量Ma/La1 強度比。試驗可以用有沾污的樣品和已知未沾污的同種合金樣品作比較，甚至還可以作為一種消除沾污的檢驗方法。
以上就是創(chuàng)想儀器小編為大家?guī)淼年P(guān)于X熒光光譜儀的固體樣品制備方法。