使用X射線熒光光譜儀，該注意什么，出現的問題又是什么原因呢，此篇繼續之前的解析案例。
1問：請教熔融玻璃扣片時內有氣泡的原因，如何避免？用的是高頻感應熔融機。
可能的原因：熔融溫度不夠或溫度過高；稀釋比例太小，樣品太多；搖晃幅度不夠；坩堝的材料與“玻璃”浸潤。
2問：用XRF測磁芯材料中的鉛，要求是100PPM以下，是否可以測量
100PPM以下的鉛含量完全可以測，但是不能太小，比如幾個PPM就比較難測了，想對其有個準確的定量必須買標樣，標樣里面肯定有鉛。
3問：做進料檢驗，比如含量99.5的Fe2O3等，我們的機器沒有衰減器，分析鐵時強度高于5000KCPS，遠超過了SC規定的2000KCPS，覺得我該怎么做好些？
（1）樣品制備時采用的稀釋比例加大
（2）用FeKβ線，強度可降低一倍
（3）我也遇到了這個問題，我們班原來的做法是降低電流電壓，對你可能不太適用，因為你的雜質元素如果還要測量的話，可能比較困難，不過可以看看
（4）壓樣法，可以加入淀粉然后再壓。
4問：最近單位的XRF經常出現紅色的警報，內容： tank temperature too high 或者 tank temperature too low。儀器狀態跟蹤顯示溫度非常不穩定，不能穩定在29~31攝氏度這一穩定范圍，是不是水冷系統出現了問題，還是環境達不到規定的要求。
（1）應該是跟水冷沒有關系，XRF的水冷只用來冷卻X tube個高壓箱的。
（2）水冷應該有自己的警報系統。應該是分析室的溫度，會收到環境溫度的影響。
（3）可能的原因有兩個：電熱系統損壞；周圍環境變化太大使電熱系統無能為力。
5問：X熒光光譜儀器，檢測口放一銅片的作用？
（1）有的手持式的在頭部裝有一個校正的樣品，同時在不用的時候也可以保護X射線發射源。
（2）銅塊作用一是能量校正，二是在不測其他樣品時擋住窗口起保護作用。
6問：為什么X射線熒光測定壓片樣中的Sb含量時樣片厚度有影響？
（1）原子序數較低的元素（或基體）對能量較高的譜線吸收系數較低，因此無限厚度也就大一點
（2）Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚。
7問：進行合金分析的時候，比如測定硅錳中的Si時，用什么進行校正要好些。
（1）用喊Si量接近待測何金鐘Si含量的合金標樣校正。
（2）基體校正這個說法不正確。如果說基體校正的話，你所做的試樣中錳和鐵能對其構成基體上的影響。
實際上，你可能是由于線性不好，所以覺得應該做“基體校正”。
原因是：可能是定值還得在準確一些；制樣上的偏差比較大。
8問：熒光光譜儀基本校正方法。
用標樣來校正。