固體樣品，是X熒光分析儀分析測試的很常見的一種類型，那下面就是講怎么做固體樣品的制備，及在制備樣品時，所需要注意的點。
首先可能就是要說固體樣品的主要缺點了，在一般情況下不能采用各種添加法：像標準添加（或稀釋）法、低（或高）吸收稀釋法、內標法等。若所有樣品中已經含有適當的、一定濃度的內標元素，則上述的zui后兩種方法還是可用的。
另外，也不能進行化學濃縮和分離。表面結構和成分有時也難取得一致。可能弄不到現成的標樣，而人工合成又很困難。
固體樣品的制樣方法，可用未加工的或經加工的大塊材料或原材料（如生鐵，鋼錠等）制取。另外，也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時發生的成分偏析，zui好用激冷。經拋光的原材料，或經砂輪磨打的表面，一般是令人滿意的，但對后者仍需進一步拋光，以減少表面粗糙度，并除去加工損傷的和沒有代表性的表面層。
創想EDX-6000型X熒光分析儀
拋光的方法有許多種，包括：
（1）先進行帶式磨削，然后用拋光器拋光，其砂紙粒度依次由粗變細。
（2）用車床、銑床或刨床進行加工。對于薄板和箔，bi須仔細操作，以保證表面不出現翹曲、皺紋和折痕。特別要注意不能照射時間太長，以免受熱變形。薄板和箔bi須襯上一塊剛性支撐物，或把它們粘在一起。
制備固體樣品時要注意：
（1）樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質現象。
（2）防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。
（3）樣品的冷卻速度。當樣品化學組成相同由于熱過程不同測得的X 射線強度不同，含C 量高的鋼鐵樣品這種現象尤為突出。冷卻速度不一致時，對輕元素C、Mg、Si、P、S 等存在很大影響；而V、Cr、W 等往往由于形成碳化物而影響分析。因此，要求制作校準曲線的樣品和分析樣品的熱處理過程要保持一致。此外，還和元素在基體金屬中的溶解度有關，元素的低固熔性會影響金屬的均勻性，快速冷卻能形成細晶粒的金相結構，而大顆粒晶粒的邊界容易發生偏析和不均勻性。
以上就是創想儀器GLMY這次為大家帶來的關于X熒光分析儀的相關知識了。